DC~110GHz Single At Dual Port Probe, DC~40GHz Manual Probe

Ang radio frequency probe ay isang pangunahing tool para sa high-frequency signal testing, na malawakang ginagamit sa pagsukat at pagsusuri ng mga electronic circuit, semiconductor device, at mga sistema ng komunikasyon.

Mga katangian:
1. Mataas na katumpakan na pagsukat: Ang RF probes ay maaaring tumpak na sukatin ang mga parameter ng RF signal, tulad ng frequency, amplitude, phase, atbp. Tinitiyak ng espesyal na disenyo at proseso ng pagmamanupaktura nito ang katumpakan at pagiging maaasahan ng data ng pagsukat.
2. Mabilis na tugon: Ang bilis ng pagtugon ng mga RF probes ay napakabilis, at ang pagsukat ng signal ay maaaring makumpleto sa napakaikling panahon, na nakakatugon sa mga pangangailangan ng mabilis na pagsubok.
3. Magandang katatagan: Sa pangmatagalang paggamit, ang pagganap ng RF probe ay matatag at hindi madaling maapektuhan ng kapaligiran o iba pang panlabas na salik.
4. Kakayahang paghahatid ng mataas na dalas: Ang mga RF probe ay may kakayahang magproseso ng mga signal hanggang sampu-sampung GHz o kahit na mas mataas na mga frequency, na ginagawang angkop ang mga ito para sa mga pangangailangan sa pagsubok ng modernong mga high-frequency na circuit at kagamitan sa komunikasyon.

Application:
1. Pagsusuri sa sistema ng komunikasyon: Naaangkop sa mga integrated circuit ng komunikasyon, radar, at RF. Ginagamit upang suriin at i-optimize ang radio spectrum, RF power, at performance ng modem.
2. Pagsusuri ng sistema ng radar: Sukatin ang sensitivity, frequency response, at anti-interference na kakayahan ng radar receiver.
3. Pagsusuri ng integrated circuit ng RF: Suriin at i-optimize ang mga katangian ng dalas, pagkonsumo ng kuryente, at pamamahala ng thermal ng mga integrated circuit.
4. Pagsusuri ng antena: Suriin at i-optimize ang pagganap ng antenna.
5. Electronic warfare system: Ginagamit upang subukan at pag-aralan ang RF performance ng electronic warfare equipment.
6. Pagganap ng microwave integrated circuits (MMICs) at iba pang mga device, at masusukat ang tunay na katangian ng mga bahagi ng RF sa antas ng chip.